UT Aim Co., Ltd. hat seine Entwicklungskapazitäten für Halbleitertestprogramme erweitert, indem es im November 2021 die neuesten Halbleitertestgeräte in seiner Abteilung für Halbleiterentwicklungstestlösungen einführte. UT Aim ist eine hundertprozentige Tochtergesellschaft der UT Group Co., Ltd., die in der unbefristeten Entsendung von Arbeitskräften in den Bereichen Fertigung und Technik tätig ist und sich hauptsächlich auf Entsendungsdienste im Fertigungsbereich spezialisiert hat. Angesichts des knappen Angebots und der Nachfrage nach Halbleitern ist der für die Qualitätskontrolle zuständige Prüfprozess wichtiger denn je. Im Jahr 2014 übernahm die Test Solutions Section von UT Aim die Serviceabteilung eines Halbleiterausrüsters, der sich seit den 1980er Jahren bewährt hat, und nutzt seither seine Stärke in Form erfahrener Ingenieure. Bislang haben wir Debug-Evaluierungen und Tests in den Anlagen der Kundenunternehmen durchgeführt. Das Unternehmen hat jedoch beschlossen, in einer neuen Geschäftsphase die eigenen Entwicklungskapazitäten für Testprogramme zu verbessern und die Entwicklung der Humanressourcen durch die Einführung der neuesten Halbleiter-Testgeräte in den eigenen Einrichtungen weiter zu stärken. Verbesserte Entwicklung von Halbleitertestprogrammen: Das Unternehmen wird gleichzeitig mit den Testabteilungen von Halbleiterherstellern Entwicklungsarbeit leisten, um die Entwicklung von Testprogrammen zu verbessern, die eine effiziente Serienproduktion von Halbleiterprodukten mit Qualitätssicherung ermöglichen. Entwicklung von Halbleiter-Testingenieuren: Die eigene Ausrüstung wird es dem Unternehmen ermöglichen, eine effektivere Ausbildung und Entwicklung von Halbleitertestingenieuren zu fördern, was im Allgemeinen etwa fünf Jahre dauert, bis der Erwerb grundlegender technischer Fähigkeiten abgeschlossen ist. Neu installierte Ausrüstung: Advantest's EVA100 (Engineering Model) - Das EVA100 ist ein Messsystem, das aus einer kleinen, platzsparenden, dedizierten Workstation besteht. Merkmale: Mehrere Testeinheiten (analog und digital) können zusammen gestapelt werden; die Systemkonfiguration kann mit einer einzigen Testeinheit geändert werden; die Zeit für die Entwicklung und den Start von Testprogrammen kann durch den Einsatz in Kombination mit Serienmodellen reduziert werden; es können auch Maßnahmen ergriffen werden, um mit alternden bestehenden Serienprüfgeräten umzugehen.