PDF Solutions, Inc. und proteanTecs gaben eine Zusammenarbeit bei kombinierten Halbleiter-Analyselösungen bekannt, die tiefere Einblicke in Ausbeute, Qualität und Zuverlässigkeit durch die Integration der Deep-Agent- und Analyselösungen von proteanTecs in die Exensio-Plattform ermöglichen sollen. PDF Solutions und proteanTecs bringen in die Zusammenarbeit komplementäres Fachwissen und Marktkenntnisse ein, die die Lösungen von PDF Solutions für die Prozesscharakterisierung und die Big-Data-Analyse von Halbleitern mit dem Deep-Data-Angebot von proteanTecs für die Analyse des Lebenszyklus von Chips und Systemen kombinieren. Durch diese Zusammenarbeit beabsichtigen proteanTecs und PDF Solutions, kombinierte Lösungen anzubieten, die die Stärken beider Unternehmen nutzen, um datengesteuerte Einblicke und Transparenz in allen Phasen der Fertigung zu ermöglichen.

Die Zusammenarbeit umfasst die Exensio® Analytics-Plattform von PDF Solutions, fortschrittliche KI/ML-Modelle und das DEXo-Datenaustauschnetzwerk sowie die Agenten von proteanTecs mit Cloud-/Edge-Analysen auf der Grundlage von ML-gesteuerter Chip-Telemetrie. Die kombinierten Lösungen sollen einzigartige Vorteile bieten, wie z.B. adaptive Testfunktionen, um die Testqualität weiter zu verbessern und DPPM (Defective Parts per Million) zu reduzieren, eine verbesserte Einstufung der Gerätequalität für nachgelagerte Tests und mehr Einblicke in RMAs (Return Material Authorizations) durch die Überwachung der Degradation im Feld.