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Umsatz 2023 816 Mio. 754 Mio. Umsatz 2024 * 922 Mio. 852 Mio. Marktwert 8,76 Mrd. 8,09 Mrd.
Nettoergebnis 2023 121 Mio. 112 Mio. Nettoergebnis 2024 * 195 Mio. 180 Mio. EV / Sales 2023 8,34 x
Nettoliquidität 2023 698 Mio. 645 Mio. Nettoliquidität 2024 * 942 Mio. 870 Mio. EV / Sales 2024 * 8,47 x
KGV 2023
62,2 x
KGV 2024 *
49,7 x
Beschäftigte 1.636
Rendite 2023 *
-
Rendite 2024 *
-
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Insider von Onto Innovation verkaufte Aktien im Wert von $477.372, laut einer kürzlich erfolgten SEC Einreichung MT
ONTO INNOVATION INC. : erhält Kaufen-Rating von B. Riley ZM
Q4 Non-GAAP-Gewinn und Umsatz von Onto Innovation sinken MT
Transcript : Onto Innovation Inc., Q4 2023 Earnings Call, Feb 08, 2024
Onto Innovation Inc. meldet Ergebnis für das vierte Quartal und das Gesamtjahr bis zum 30. Dezember 2023 CI
Onto Innovation Inc. gibt Gewinnprognose für das erste Quartal bis zum 30. März 2024 ab CI
ONTO INNOVATION INC. : B. Riley bekräftigt seine Kaufempfehlung ZM
Onto Innovation Inc. kündigt die Markteinführung des neuen Firefly G3 Inspektions- und Messsystems für die automatisierte Prozesskontrolle bei der Großserienproduktion von Substraten auf Panelebene an CI
Onto Innovation Inc. gibt bekannt, dass Karen M. Rogge nicht für die Wiederwahl als Mitglied des Verwaltungsrats kandidiert CI
ONTO INNOVATION INC. : B. Riley bekräftigt seine Kaufempfehlung ZM
Onto Innovation's Q3 Non-GAAP Ergebnis, Umsatzrückgang MT
Transcript : Onto Innovation Inc., Q3 2023 Earnings Call, Nov 09, 2023
Onto Innovation Inc. meldet Ergebnis für das dritte Quartal und die neun Monate bis zum 30. September 2023 CI
Onto Innovation Inc. gibt Gewinnprognose für das vierte Quartal bis zum 30. Dezember 2023 ab CI
ONTO INNOVATION INC. : B. Riley bleibt bei seiner Kaufempfehlung ZM
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Onto Innovation Inc. beschäftigt sich mit dem Design, der Entwicklung, der Herstellung und dem Support von Mess- und Inspektionsgeräten für die Halbleiterindustrie. Die Halbleiterindustrie umfasst Prozesskontrollinstrumente, die optische Messtechnik auf strukturierten und unstrukturierten Wafern, Wafer-Makrodefektinspektion, einschließlich Makroinspektion von 2D- und 3D-Wafer-Merkmalen, Wafersubstrat- und Paneelsubstrat-Lithografiesysteme sowie analytische Software für die Prozesskontrolle durchführen. Die Produkte des Unternehmens werden von Herstellern von Siliziumwafern, Halbleiterbauelementen und fortschrittlichen Verpackungsherstellern auf dem Halbleitermarkt eingesetzt. Zu den Produkten des Unternehmens gehören automatisierte Metrologiesysteme, integrierte Metrologiesysteme, Inspektion/Charakterisierung von Siliziumwafern auf der gesamten Oberfläche, Makrodefektinspektion, automatisierte Defektklassifizierung und Musteranalyse, Ausbeuteanalyse, Opakfilm-Metrologie, 4D-Technologie, Advanced Packaging Lithographie, Prozesskontrollsoftware und Ausbeutemanagementsoftware.
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