Faraday Technology Corporation hat in Zusammenarbeit mit Infineon eine SONOS eFlash-Plattform auf dem 40uLP-Prozess von UMC entwickelt. Diese Plattform umfasst ein neu entwickeltes eFlash-Subsystem-IP und eine komplette eFlash-Testlösung mit einfach zu integrierenden und schnellen Datenzugriffsfunktionen. Diese Gesamtlösung erleichtert es den Kunden, die Produktentwicklung zu beschleunigen und die Flash-Speichertechnologie leichter zu nutzen. Gleichzeitig vereinfacht sie die SONOS eFlash-Tests mit einer integrierten Selbsttestfunktion (BIST), um den Kunden solide Qualitätsvorteile zu bieten.

Faraday und Infineon haben diese SONOS eFlash Plattform gemeinsam entwickelt, um die Nachfrage nach 40nm Low-Power und sicherem eFlash zu befriedigen, die von KI, Smart Grid, IoT und MCU-Anwendungen getrieben wird. Diese Plattform besteht hauptsächlich aus einem Flash-Speicherblock, einem Controller und dem neuen Subsystem-IP. Dieses Subsystem umfasst eine wesentliche Busschnittstelle, integrierte Taktsteuerungsschaltungen und zusätzliche Funktionen wie automatische eFlash-Initialisierung, vereinfachte Lösch-/Schreibvorgänge zur Entlastung der CPU, Lese-/Schreibschutz und einen Pseudo-Zufallsschreibpuffer für die nahtlose IP-Integration und Nutzung der SONOS eFlash IP.

Darüber hinaus ermöglicht dieses Subsystem mit BIST, dass die Chips auf allgemeinen Testgeräten getestet werden können, um die Qualität und Zuverlässigkeit des Flash-Speichers zu gewährleisten und die Testzeit zu verkürzen.