Synopsys, Inc. kündigte eine innovative Streaming-Fabric-Technologie an, die sowohl den Zugriff auf Siliziumdaten als auch die Testzeit um bis zu 80% verkürzt und gleichzeitig den Stromverbrauch minimiert. Die neue Streaming Fabric ist ein einzigartiges On-Chip-Netzwerk, das Siliziumdaten schnell von und zu mehreren Designblöcken und Multi-Die-Systemen transportiert. Dadurch wird die Zeit für effizientes Testen und die Analyse des Gesamtzustands des Chips auf Anomalien und Ausfälle erheblich reduziert. Geringere Testkosten durch kürzere Datentransportzeiten: Um den Zustand des Siliziums und die Betriebszeit sicherzustellen, ist ein ständiger Zugriff auf Chip- oder Multi-Die-Systemdaten zu Parametern wie Prozess, Spannung und Temperatur sowie deren Analyse erforderlich.

Bei großen, fortschrittlichen Node-Designs verwenden Entwicklungsteams in der Regel einen Divide-and-Conquer-Ansatz, indem sie den Datenzugriff in jeden Designblock integrieren und die Blöcke dann mit den Pins auf Chipebene verbinden. Herkömmliche Netzwerke sind ziemlich starr und erfordern einen hohen Planungsaufwand. Im Gegensatz dazu verfolgt die neue Streaming Fabric-Technologie einen Plug-and-Play-Ansatz und erfordert nur einen minimalen Planungsaufwand, da sie so programmiert werden kann, dass sie verschiedene Blockgeschwindigkeiten und Datenschnittstellengrößen unterstützt.

Um das Routing zu minimieren, unterstützt die Fabric vereinfachte Verzweigungen für Blöcke mit kleinen Datenschnittstellen. Diese Fähigkeiten stellen sicher, dass die Methoden für den Datenzugriff auf Blockebene physikdesignfreundlich sind, einen minimalen Aufwand erfordern und die kürzeste erforderliche Zugriffszeit bieten, was die Testkosten senkt. Darüber hinaus minimieren die vereinfachten Verzweigungsverbindungen der Technologie die physischen Auswirkungen auf die Designs, so dass Entwicklungsteams die Streaming Fabric mit der Synopsys Digital Design Family schnell einsetzen können.

Verbesserung der Datenzuverlässigkeit durch genaue Leistungsabschätzung: Daten, einschließlich Testprogrammen, die im Feld auf Chips oder Multi-Die-Systeme angewendet werden, dürfen nicht dazu führen, dass das Silizium zu viel Strom verbraucht, was entweder das Bauteil beschädigen oder die Ergebnisse ungültig machen könnte. Die neue Technologie zur Leistungsabschätzung, die in die Synopsys TestMAX ATPG-Pattern-Generierungslösung integriert ist, bestimmt die zum Zeitpunkt der Datenanwendung aufgenommene Leistung genauer als frühere Methoden, indem sie die Ergebnisse der PrimePower RTL-to-Signoff-Leistungsanalysetechnologie von Synopsys zuordnet. Dadurch wird der Leistungsabfall gemildert und falsche Siliziumdatenergebnisse und Schäden werden vermieden.