Advantest Corporation hat seine DUT Scale Duo-Schnittstelle für die V93000 EXA Scale SoC-Testsysteme auf den Markt gebracht, die den branchenweit höchsten Grad an Parallelität beim Testen fortschrittlicher Halbleiter ermöglicht. Mit dieser revolutionären Schnittstelle wird der nutzbare Platz auf DUT-Boards und Probe-Karten um 50% oder mehr vergrößert, während Wafer-Probe- und Endtest-Setups Bauteilhöhen aufnehmen können, die mehr als dreimal so hoch sind. In den heutigen Testumgebungen wird die Anzahl der Bauteile, die parallel getestet werden können, meist durch den Platz auf der Probe Card oder dem DUT Board begrenzt, nicht durch die verfügbaren Tester-Ressourcen.

Angesichts schnell wachsender Marktsegmente wie Automobil-, Mobil- und RF-Geräte, die zu einer höheren Anzahl von Bausteinen tendieren, wird der Bedarf an mehr Platz auf DUT-Boards für IC-Tests immer wichtiger. Darüber hinaus benötigen führende Wafer Prober und Endtest-Handler mehr Fläche auf den Leiterplatten, um die kosteneffizientesten Lösungen anbieten zu können, von der Einzel-Wafer-Touch-Down-Fähigkeit beim Wafer-Probing bis hin zum massiv parallelen Endtest über 32 oder mehr Standorte. Advantest bietet die branchenweit erste Prüflingsschnittstelle, die sich entweder an die bestehende Standardgröße der Prüflingsplatine oder der Prüfkarte anpassen oder auf die neue, deutlich größere Größe umstellen kann.

Mit Hilfe eines einzigartigen Schiebemechanismus können Benutzer mühelos zwischen beiden Formaten hin- und herwechseln, um sich an spezifische Anwendungsanforderungen anzupassen. Zusammen mit der neuen Schnittstelle sorgt eine neue, supersteife, verlängerte Brücke für eine überragende Ablenkungsleistung bei Direktmessungen. Das universelle Design des Geräts ermöglicht eine Vielzahl von Anwendungen, einschließlich der Prüfung von digitalen und HF-Geräten.

Mit ihren hochentwickelten Abtastfunktionen bietet die erweiterte Brücke die branchenweit beste Planarität und eine hohe Fertigungsausbeute und gewährleistet eine hochpräzise Positionierung und Überprüfung der Einspannung der Prüfkopfkarte. Die Leistung der neuen Schnittstelle wurde von Pilotkunden verifiziert, bevor die Geräte für die Massenproduktion in Betrieb genommen wurden. DUT Scale Duo wird voraussichtlich Mitte dieses Jahres auf breiter Basis verfügbar sein.