Advantest Corporation kündigte seine branchenweit erste ACS Adaptive Probe Cleaning (APC) Lösung an, um den Reinigungszyklus von Sondenkarten mit Effizienz zu optimieren. APC ist Teil des offenen ACS-Lösungsökosystems von Advantest und hat sich bei Kunden in Asien und Europa bewährt. STMicroelectronics hat ACS APC an zwei seiner Produktionsstandorte installiert und stellt fest, dass die Reinigungszyklen erheblich verkürzt werden konnten, um die Ausbeute effektiv zu verbessern, die Lebensdauer der Sondenkarten zu verlängern und die verfügbare Systemzeit für Tests zu erhöhen.

Während es viele Techniken gibt, die darauf abzielen, die Testzeit und -kosten zu reduzieren, stellen die Kosten für Probe Cards eine neue Herausforderung dar, da die Anzahl der Pins und die funktionale Komplexität zunehmen. In der Regel setzen die Chiphersteller eine Online-Reinigungsmethode mit festen Zyklen ein, die eine Lernkurve erfordert, um den idealen Kompromiss zwischen Reinigung und Renditeverlust zu ermitteln, und daher bei der Einführung neuer Geräte mehr Zeit in Anspruch nimmt und mehr Verluste als nötig verursacht. ACS APC führt Advantest's “adaptive Intervall” Ansatz zur Reinigung der Sondenspitze ein.

Es verwendet Algorithmen der künstlichen Intelligenz (KI), um die Verschmutzung der Nadeln zu bewerten und sie nur dann zu reinigen, wenn die Ausbeute beeinträchtigt wird, um die Reinigungshäufigkeit drastisch zu reduzieren. Das maschinelle Lernmodell verwendet die Testergebnisse des ersten Wafers mit einem vorgegebenen Reinigungszyklus, um das Fehlermuster zu erlernen, und geht dann zur adaptiven Reinigung für die restlichen Wafer derselben Charge über. Die Bewertung nimmt pro Wafer nur wenig Zeit in Anspruch, ohne den Testdurchsatz zu beeinträchtigen.

Jean-Luc Mariani, EWS Europe Operations & Technology Director, und Chris Portelli-Hale, Test Technology R&D Director, beide von ST Microelectronics, bestätigten, dass sie mehrere Advantest ACS APC Einheiten installiert haben, um eine Vielzahl komplexer Bauelemente zu testen, und dass sie beeindruckende Ergebnisse erzielen. Sie stellten fest, dass sich ihre Reinigungszyklen erheblich verkürzt haben, wodurch sie die Kosten für die Wartung der Testkarten halbieren und ein effektiveres Ersatzteil- und Lebenszyklusmanagement für Testkarten erreichen konnten.