Rudolph Technologies, Inc. Aktie Nyse

Onto Innovation Inc. beschäftigt sich mit dem Design, der Entwicklung, der Herstellung und dem Support von Mess- und Inspektionssystemen für die Halbleiterindustrie. Zu den Produkten des Unternehmens gehören automatisierte Metrologiesysteme, integrierte Metrologiesysteme, Inspektion/Charakterisierung von Siliziumwafern auf der gesamten Oberfläche, Makrodefektinspektion, automatisierte Defektklassifizierung und Musteranalyse, Ausbeuteanalyse, Opakfilm-Metrologie und andere. Die Produkte des Unternehmens werden in erster Linie von Herstellern von Siliziumwafern, integrierten Halbleiterschaltkreisen und fortschrittlichen Verpackungsherstellern auf dem Halbleitermarkt eingesetzt. Die Produkte des Unternehmens werden auch für die Prozesskontrolle in einer Reihe anderer Märkte für die Herstellung von Spezialgeräten verwendet, darunter Leuchtdioden, oberflächenemittierende Laser mit vertikalem Resonator, mikroelektromechanische Systeme, CMOS-Bildsensoren, Silizium- und Verbindungshalbleiter-Leistungsgeräte, analoge Geräte, RF-Filter, Datenspeicher und bestimmte industrielle und wissenschaftliche Anwendungen.